ЗАДАЧА
Система должна распознавать дефекты структуры материала колеса с линейными размерами от 0,2 мм и представлять их изображения дефектоскописту для принятия решения. Для согласования с темпом работы поточной линии на сканирование всей поверхности отводится 60 секунд.
Количество обрабатываемой информации и ограничения по времени потребовали создания многоуровневой системы распределенной обработки изображений на базе контроллеров Compact Vision System производства компании National Instruments, промышленных компьютеров и рабочих станций. В процессе контроля колесо поливается магнито-люминесцентной эмульсией, намагничивается и подвергается ультрафиолетовому облучению. В результате эмульсия, осевшая на дефектах, светится в видимом диапазоне (желто-зеленым светом). Для сканирования поверхности колеса используются одиннадцать FireWire (IEEE 1394) цветных камер с разрешением 1280 х 1024. За одну итерацию они полностью перекрывают сектор колеса величиной 20 градусов.